当今，集成电路的电磁兼容性越来越受到重视。电子设备和系统的生产商努力改进他们的产品以满足电磁兼容规范，降低电磁发射和增强抗干扰能力。过去，集成电路生产商关心的只是成本，应用领域和使用性能，几乎很少考虑电磁兼容的问题。即使单片集成电路通常不会产生较大的辐射，但它还是经常成为电子系统辐射发射的根源。当大量的数字信号瞬间同时切换时便会产生许多的高频分量。
尤其是近年来，集成电路的频率越来越高，集成的晶体管数目越来越多，集成电路的电源电压越来越低，加工芯片的特征尺寸进一步减小，越来越多的功能，甚至是一个完整的系统都能够被集成到单个芯片之中，这些发展都使得芯片级电磁兼容显得尤为突出。现在，集成电路生产商也要考虑自己产品电磁兼容方面的问题。
集成电路电磁兼容的标准化
由于集成电路的电磁兼容是一个相对较新的学科，尽管对于电子设备及子系统已经有了较详细的电磁兼容标准，但对于集成电路来说其测试标准却相对滞后。国际电工委员会第47A技术分委会(IEC SC47A)早在1990年就开始专注于集成电路的电磁兼容标准研究。此外，北美的汽车工程协会也开始制定自己的集成电路电磁兼容测试标准SAE J 1752，主要是发射测试的部分。1997年，IEC SC47A下属的第九工作组WG9成立，专门负责集成电路电磁兼容测试方法的研究，参考了各国的建议，至今相继出版了150kHz－1GHz的集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。此外，在脉冲抗扰度方面，WG9也正在制定对应的标准IEC62215。
目前，IEC61967标准用于频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试，包括以下六个部分：
第一部分：通用条件和定义(参考SAE J1752.1)；
第二部分：辐射发射测量方法--TEM小室法(参考SAE J1752.3)；
第三部分：辐射发射测量方法--表面扫描法(参考SAE J1752.2)；
第四部分：传导发射测量方法--1Ω/150Ω直接耦合法；
第五部分：传导发射测量方法--法拉第笼法WFC(workbench faraday cage)；
第六部分：传导发射测量方法--磁场探头法。
IEC62132标准，用于频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁抗扰度测试，包括以下五部分：
第一部分：通用条件和定义；
第二部分：辐射抗扰度测量方法-- TEM小室法 ；
第三部分：传导抗扰度测量方法--大量电流注入法(BCI) ；
第四部分：传导抗扰度测量方法--直接射频功率注入法(DPI) ；
第五部分：传导抗扰度测量方法--法拉第笼法(WFC)。
IEC62215标准，用于集成电路脉冲抗扰度测试，包括以下三部分，但尚未正式出版：
第一部分：通用条件和定义；
第二部分：传导抗扰度测量方法??同步脉冲注入法 ；
第三部分：传导抗扰度测量方法??随机脉冲注入法参考(IEC61000-4-2和IEC61000-4-4) 。
下文主要针对IEC61967 和IEC62132的测试方法进行讲解。
集成电路电磁兼容测试方法
电磁发射测试标准--IEC61967
第一部分：通用条件和定义
传感器：TEM小室、场探头等；
频谱仪或接收机：频率范围覆盖150kHz-1GHz，峰值检波、带最大值保持功能，分辨率带宽的设置如下表：
表一 分辨率带宽的选择
电源：用电池供电或采用低射频噪声的电源；
测试温度：23℃±5℃；
环境噪声：除被测IC外其余外围电路供电时，所测到的背景噪声低于限值至少6dB，必要时可采用前置放大器；
