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光电传感器的电磁兼容设计

2010-04-122020

  
5 电磁兼容试验

  电磁兼容设计靠电磁兼容试验来验证与改进。现在,有了比较完善的电磁兼容试验方法和专门的试验设备。开关电器动作时,形成强烈的干扰,产生瞬态脉冲。IEC61000-4-4 标准对电快速瞬变脉冲干扰作出规定,分为单个脉冲、一群脉冲、脉冲群。脉冲群波形如图5 所示,周期为300 ms , 脉冲束宽度为15 ms。

 

 

  单个脉冲和一群脉冲中单个脉冲的宽度要小于15ms。IEC1024 规定的雷电模拟脉冲的宽度也要小于15 ms。光电传感器内部采用小电容对瞬变脉冲滤波比较适应。传感器若受主机控制,则可在软件中采用数字滤波、延时指令来抑制瞬变干扰。光电传感器辐射敏感度试验结果如表1 所示。

 

 

6  结束语

  采用以上设计后, 光电传感器既没有干扰80C51 单片机实验系统, 也没有干扰F-40M 型PLC。它在断路器严酷环境中能稳定地工作。经过电磁兼容设计,光电传感器可靠性及质量显著提高。
  
  参考文献:

  [1 ]  黄继昌,徐巧鱼,张海贵,等. 传感器工作原理及应用实例[M] .北京:人民邮电出版社,1998. 160.
  [2 ]  雷玉堂,王庆有. 光电检测技术[M] . 北京:中国计量出版社,1997. 236 - 238.
  [ 3 ]  白同云,吕晓德. 电磁兼容设计[M] . 北京:北京邮电大学出版社,2001. 55 - 60.
  [4 ]  张国忠,赵家贵. 检测技术[M] . 北京:中国计量出版社,1998.378 - 382.

 

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