微波暗室性能的低频三维电磁分析

四 吸波材料的布局和等级品质的最佳选择

    此处讨论了吸波材料的布局和等级品质对测试区性能的效应，假设暗室布局与前述类似，测试区性能和比较是在两种情况下进行的。即接收端墙（暗室主墙）和“龟背突起”部分分别布设0.9米或1.2米高角锥吸波材料，测试区的场强以等值线形式在测试区中心切面表示的，仔细观察明显看出场强b状况比a状况更均匀，也就是说用1.2米高角锥更优越。也可以看出侧墙的反射（相应H面入射）比地面或顶棚反射（相应E面入射）要大，故产生在测试区的场分布形成椭圆型。

图2 以测试区中心点归算的测试区的场轨迹.
a 用0.9米角锥吸波材料
b 用1.2米角锥吸波材料

五 源天线与DUT距离对测试区性能的效应

    对VHF和UHF频段来说，源天线和DUT之间的间距是一个重要的参数，它能强烈影响测试区的性能。众所周知，对微波频率（＞2GHz）大入射角，譬如65度，吸波材料的吸波性能也相当好。但对VHF和UHF频段在较大的入射角时吸波性能大大恶化。图3所示是收发天线不同间距时的暗室测试区场强等值线。

a 间距3米

b 间距6米

图3 以源天线与DUT间距为参数测试区场轨迹图

    3米间距对侧墙、地板和天花板的入射角近似27度。
    6米间距对侧墙、地板和天花板的入射角近似45度。

    可以明显看出间距会导致不期望不要求的测试区横截面的场扰动，在测试区中心很小的地方电波场结构表现不稳定，这可导致频率速变，结果就是在测试区难以控制场的均匀性。