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手机静电放电抗扰度影响

2012-12-173410安规与电磁兼容网

2.2 测试过程中的性能监测

专用模式:被测手机与基站模拟器建立并保持通信连接,在加扰过程中,观察被测手机是否维持通信连接。整个加扰过程结束后,观察被测手机是否仍能保持通信连接,是否能正常工作,有无用户可察觉的通信质量的降低,有无用户控制功能的丧失或存储数据的丢失。

空闲模式:观察手机是否误操作,试验结束后,观察被测手机是否能正常工作,有无用户可察觉的通信质量的降低,有无用户控制功能的丧失或存储数据的丢失。

具体试验点和试验条件见表1。

表1 手机ESD 试验点和试验条件

2.3 ESD 测试导致手机失效的现象

ESD 测试产生失效的现象有两种:一种是永久性失效,即导致手机损坏;另一种是软失效,即测试结束后或重新启动手机后失效的功能可以恢复。

ESD 测试过程中手机软失效的现象有:

1) 手机自动关机,重启后能恢复工作;

2) 手机通话中断;

3) 手机自动重启;

4) 手机死机,重启后可恢复工作;

5) 屏幕显示异常,如屏幕显示白屏、黑屏、屏幕显示模糊、屏幕出现乱码、或屏幕出现条纹等;

6) 触摸屏功能或按键功能丧失;

7) 软件出现错误提示,如在充电器没有插拔的情况下屏幕频繁提示,“充电器已移除,充电器已连接”;

8) 测试过程中通话质量降低,声音消失或断续或出现啸叫声等。

ESD 导致手机损坏的现象有:

1) 自动关机后不能再次开机;

2) 由于部分器件损坏,手机的某些功能已无法恢复;

3) 处于充电状态测试时,充电器发生损坏甚至爆炸等现象。

笔者试验了213 批次手机,其中ESD 试验不合格的有41 批次,不合格比例为19.2 %。试验结果表明,ESD 抗扰性是电磁兼容测试主要不合格项目之一。试验中失效最多的工作状态为充电、专用模式,放电模式为空气放电;失效点多集中在按键、接缝和LCD 显示屏;出现失效现象频率由高到低依次为:通话中断;通话中断,手机转充电状态;手机自动重启;死机,重启后可恢复工作;试验过程中充电器坏或爆炸;死机,试验后不能恢复工作;实验中白屏、死机、试验后不能恢复工作等。

3 ESD 失效对策

手机ESD 试验不合格,大部分是可恢复的暂时性功能失效,这些失效与手机抗静电设计密切相关,为了提高手机的抗静电能力,可以从以下几个方面进行改进:

1) 从结构接地保护方面考虑,最好能实现多点接地,间隙要小。接地点应尽可能地多,缩短接地线长度,结构应尽可能地密封;

2) 敏感元件远离缝隙或固定开孔;

3) 选用抗静电等级较高的器件;

4) 加大塑胶垫的面积,加长静电干扰路径,削减ESD 对线路的影响;

5) 保持地电流远离敏感电路及有关线路;

6) 对于敏感器件,通过使用保护器件(如TVS、ESD 防护器件) 来加强保护;

7) 保持敏感器件与静电源隔离;

8) 减少回路面积,电源与地尽可能地近,走线尽可能地短,信号线尽可能地靠近地线。

4 结束语

本文介绍了手机电磁兼容测试标准及手机ESD 测试要求、方法和手机ESD 抗扰度试验的主要失效现象、模式的分析,明确了电磁兼容测试中ESD 抗扰性是影响手机合格的一个关键指标。希望本文能对关心手机的ESD 抗扰性的生产厂家和设计人员有所帮助,同时也引起那些对ESD 抗扰性不太了解的生产厂家和设计人员的重视。

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