5 EMC诊断实施举例
5.1 借助一些诊断工具进一步定位EMC问题
在通过EMC预测量发现设备(或分系统)的EMC问题后，可以借助一些诊断工具进一步定位EMC问题。这有助于测试(设计)工程师有针对性的提出EMC对策，顺利解决已经发现的EMC问题。以下介绍当前使用比较普遍的84105EM诊断系统。
其系统功能为用于表面电流、插槽、电缆和集成电路的磁场辐射测量。其系统组成是由三EMC分析仪、近场探头和前置预放三部分组成。系统特点：对环境没有特别要求(不需要屏蔽室或暗室)，可测频段宽，测量精度高，只配置了磁场探头，操作简单、价格较低。
5.2 简述电磁故障诊断84105EM故障诊断系统诊断内容与测量配置。
(1) 诊断目的
针对已经检测出的EMI不合格频率点，采用近场检测的方法进一步定位干扰发生点；针对已经检测出的EMS不合格频率点，进一步定位敏感度薄弱部位。
(2) 诊断工具
采用安捷伦84105EM电磁兼容诊断系统，该系统由EMC分析仪E7401A(含选件跟踪发生器前置放大器11909A)和近场探头套(含11941A和11940A近场探头)组成，参见图5(a)。
图5 (a) 电磁故障诊断系统测量配置示意图
(b)为诊断屏蔽壳体上不应有的孔隙部位测量示意
近场探头套所包含的探头11941A的测量频段为9kHz-30MHz，11940A的测量频段为30MHz～1MHz，它们都采用双环设计。探头的两个环天线在平衡/不平衡变换器(简称“巴仑”)合并变为不平衡输出(同轴线采用双环可使它们的电场感应电压分量反相，相互抵消，只保留磁场感应电压分量)。理论分析明在近场探测情况下，电场探头(如单极或偶极振子)不可避免或容性耦合周围的杂散信号，难实现可重复的测量，而环天线的磁场探头有很好的测量可重复性，并可抑制感应的电场，所以本系统采用这种双环结构的磁场探头。
为了进行敏感度测量，可采用E7402A分析仪配置的选件跟踪发生器(1DS)，内置在EHC分析仪中。由于跟踪发生器与测量接收机做成一体，两者的频率保持同步，这比采用单独的扫捅要方便得多，尤其在滤波器传输特性的测量中可大大缩短测量时间。
每个近场探头均用网络分析仪校准，每个探头在其频段的5个频率点测校正系数(dB(uA/m)/uV)，将接收机读数(dB uv)加上此校正系数就得出所测的磁磁场强度(dB(uA/m))。两个近场探头的校正系数已存储在EMC分析仪的ROM中。
⑶ 诊断内容
寻找PCB板的“热点”(即电磁辐射过强的部位)，记录其频率及幅值；寻找PCB的“敏感度空洞”(即电磁敏感度薄弱部位)，记录其频率及幅值；寻找屏蔽壳体上不应有的孔隙部位。图5(b)为诊断屏蔽壳体上不应有的孔隙部位的测量配置示意图。
