温度冲击试验
[项目介绍]
本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。
[业务范围]
1.计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等
2.电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等。
3.电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备；
4.其他：包装箱、运输设备等。
[测试参考标准]
IEC 60068-2-14，GB/T 2423.22,GJB 150.5等
[设备参数]
设备型号：CJ602S3 Ⅰ
试验温度范围：-75℃～200℃
高温设定范围：+60℃～+200℃
低温设定范围：0℃～-75℃
温变速率：≤5Min
内箱尺寸：670×650×460mm
[一通检测优势]
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1.可靠性测试: 温度冲击、振动、机械冲击、高压蒸煮、跌落、恒温恒湿、快速温变、晶须、切片、失效分析、碰撞、压力、插拔、高温、低温、盐雾、防尘、防水、气体腐蚀、UV老化、氙灯老化、HALT、IPIK等级、太阳辐射、EMC等。
3.ISTA测试:1A、1B、1C、1D、1E、1G、1H、2A、2B、2C、2F、3A、3E、3F、6A、6B。
4.包装材料测试：纸和纸板、瓦楞纸板和纸箱、缓冲材料、纸护角、胶带、塑料薄膜、打包带、托盘等包装材料的一系列测试。
5.化学环保测试：ROHS、REACH、卤素、成分分析等。
6.电气性能测试：耐电压、绝缘电阻、接触电阻、电感、电容、百格、色差、噪音等。
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