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静电的危害

   2005-11-08 安规与电磁兼容网8930

半导体和IC生产线上的静电及其危害

①穿着尼龙衣、塑胶基底鞋缓慢在清洁地板上走动,人身会带7KV-8KV电压。

②玻璃纤维制成的晶体载料盒滑过聚丙烯桌面时,易产生10KV静电。

③晶片装配线:晶片5KV,晶片装料盒35KV,工作服10KV,桌面10KV,有机玻璃盖8KV,石英晶体1.5KV,晶片托盘6KV。

④光刻间塑料地面500V-1000V,金属网格地面也是500V-1000V,扩散间塑料地面500V-1500V瓷砖地面也是500V-1500V,塑料墙面约700V,塑料顶棚0-1000V,铝板送风口,回风口500V-1000V,金属活动皮革椅面500V-3000V。

(2)半导体和IC生产线上的静电危害

①静电库仑力的危害:静电库仑国作用下吸附的粉尘、污物,可能带给元器件,从而增大泄露或造成短路,使性能受损,成品率大大下降。如粉尘粒径〉100微米,铝线宽度约100微米,薄膜厚度在50微米以下时,最易使产品报废,这种情形多发生在腐蚀清洗、光刻、点焊和封装等工艺过程中。

②静电放电引起的危害:如有数千、数万伏的高电位物体发生脉冲刷形放电或火花放电时,瞬间会有很高的放电电流流向大地时,形成脉冲状的电流峰位在20A,造成可观的影响,静电放电(ESD)还伴随着电磁波发射,会引起种种危害。

A、MOSIC等半导体器件将被静电放电(ESD)击穿或半击穿。

MOS场效应管其栅极是从氧化膜引出,栅极与衬底间是隔着一层氧化膜,当栅极与衬底间的电压超过一定值,氧化膜便被击穿,如果MOSIC,则全部报废了当施加电压于天UB=50-100V,氧化膜便会被击穿,因为栅极电容很小(约几个微微法),输入阻搞很高(约1014Ω以上),这样,少量的电荷就会产生很高电压,电荷也很难汇漏,只要大于50V(无保护)就会烧毁,所以,只要人手一摸栅极,元件就坏了,因为人带电超过50V是平常事。

B、各类绝缘膜的耐压值见表1

表1各类绝缘膜的耐压值 

绝缘膜

绝缘耐压MV/cm

介电常数

Si02

 10

4

Si3N

10

7

Ta202

5-8

25

Tr02

4

22-22

TiO2

1

20-40

Nb2O5

5

30-100

C、各类元件典型耐静电压数值见表2

表2 各类元件耐静电压值

类型

耐放电压值(v)

VMOS

30-1800

MOSFET

100-200

GaAsFET

100-300

EP ROM

100

运算放大器

190-2500

JFET

140-700

C MOS

250-3000

肖特基二极管

300-3000

双极型晶体管

380-7000

ECL

500-1500

可控硅

680-1100

肖特基TTL

300-2500

混合电路

500

SAW

150-500

从表2中我们可以了解到集成电路对静电敏感性,各种芯片不同之处在于所能承受的耐静电压值不同。实际工用条件中,几乎20V的静电压直接接触器件就足以毁坏或降低性能。

d、组装中要损坏元器件,或造成电子仪器设备故障或误动作。

静电放电损坏元器件使整块印刷电路板失去作用,造成经济损失;

静电放电的噪声引起机器设备的误动作或故障一间接放电影响,电容放电测得结果,除产生瞬间脉冲大电流外,还会产生跨越数兆赫兹,甚至数百赫兹的强大噪声。近年来,静电放电噪声引起计算机误动作的基础研究取得很大进展。

放电时产生的电磁波进入接收机后,会产生杂音,干扰信号从而降低信息质量,或引起信息误码。

3. 静电感应的危害

受静电感应的物体与带电体完全等价,并有静电力学现象和放电现象的发生,如果感应物体的电阻是较小良导体时,还会发生火花放电而造成危害。

A、生产操作的车间里。

高电压设备、线路附近,人员在操作焊接、摆弄MOS器件或MOSIC时,由于静电感应,极易引起人体对器件的静电放电,从而损坏器件。

B、管道输送的空调气流(离子流),对人体吹风时相当于充电,当带电人体接触敏感器件,静电放电会击穿损坏器件。

2、对电子设备生产过程的静电危害

对某计算机厂生产过程中的静电危害进行分析,分析结果如表3所示。

表3计算机生产过程中的静电危害

阶段

静电危害部位

器件制造

切断、接线、检测、传递、交货、运输

插件制造

元器件入厂检测验收、保管分发、插件插装、焊接、清洗、检测、传弟、包装运输

整机装联

插件验收贮存、整机装联、调试、检测、传递、包装、运输

由表3可以看出,整机生产的各个环节都会遭遇静电破坏。主要环节包括:器件的采购运输;器件进厂检验、验收;器件储存、领料;器件插装、焊接;产品组装、检验;产品包装,发货。

除电子元件、电子设备生产过程中受到静电破坏外,就是在产品使用过程中,也会受到静电的危害。归纳起来,静电引起的危害足以造成电子器件和电子设备性能失调,其对电子器件、设备危害的状况见表4所示。

表4  静电对半导体器件、电子设备的危害

器件或设备种类

危害状况

半导体器件

施加超过耐压能力的电场导致器件击穿、半击穿、性能劣化

磁带录相机

由于静电吸附灰尘,促使磁头磨损,磁带运转不良,由于制造时混入灰尘而漏失信息,产生噪声、颤音。

电子计算机

静电放电引起的噪声使系统停机、记录错误、漏失信息

计算机外围设备

由于静电力使卡片难于整理、磁鼓不良、机械性能不稳定

测量仪器类

零点变动,误信号

 
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