由于2.25GH大约是750MHz的三次谐波，因此我们首先针对750MHz做滤波设计。为了克服这种干扰应该对基带信号加以滤波，阻止高频成分传播和搬移。如图8所示是一种推荐电路，其中电容C1、C2和L2可作为备选，将此电路加在图6黄色框图标示的电源入射端口附近做滤波。

图8 建议增加滤波电路

采用此滤波方案后的再进行近场扫描Max Hold的结果可参考图9所示近场辐射结果，此处750MHz附近的近场辐射已经下降到了-92.42dBm，2.25GHz处最大近场辐射下降到了-53.08dBm：

图9  调试后750MHz及2.25GHz近场辐射测试结果

最后我们再进入暗室完成一次全频带范围内的辐射杂散扫描和传导扫描，最终结果请参考图10和图11所示。可以看出辐射杂散结果有明显改善，同时传导辐射也有所改善。

图10  调试后辐射杂散测试结果

图11  调试后传导辐射测试结果

总结

本案例向我们揭示了一种通过使用频谱仪和近场探头测试解决方案来完成无线智能通讯设备的辐射杂散调试的方法。一个快速精准及高性价比的设备往往能够高效的完成研发验证。

作者简介：李松 是德科技公司