标准名称与说明:电气绝缘半导体装置 (Electrically Isolated Semiconductor Devices) 安全标准,第4版
主要要求变更概述:澄清绝缘物料工作温度之定义,及应在何时进行有限热老化测试 (Limited Thermal Aging Test)。
生效日期:2008 年6 月 14 日
标准名称与说明:电气绝缘半导体装置 (Electrically Isolated Semiconductor Devices) 安全标准,第4版
主要要求变更概述:澄清绝缘物料工作温度之定义,及应在何时进行有限热老化测试 (Limited Thermal Aging Test)。
生效日期:2008 年6 月 14 日