三、 产品的辐射抗扰度问题

产品的辐射抗扰度测试是在全电波暗室中进行如图 9

所示,标准的测试场强等级有 1V/m, 3V/m和 10V/m, 汽车类 电子产品的测试方法有所不同。

数字电路相对于模拟电路的抗辐射干扰能力要强的 多,在辐射抗扰度测试过程中,多数出现问题的是带模拟电 路的产品, 测试中常出现的问题有在某些频率上产品的信号 输出变化巨大(如图 10所示) ,通信出现错误,或系统复机 死机。

所示,标准的测试场强等级有 1V/m, 3V/m和 10V/m, 汽车类 电子产品的测试方法有所不同。

数字电路相对于模拟电路的抗辐射干扰能力要强的 多,在辐射抗扰度测试过程中,多数出现问题的是带模拟电 路的产品, 测试中常出现的问题有在某些频率上产品的信号 输出变化巨大(如图 10所示) ,通信出现错误,或系统复机 死机。

图 9 辐射抗扰度测试

图 10 产品在抗扰度测试中信号输出受干扰影响发生变化

此类问题主要出现于通信类产品和带有信号采信、用模拟 电路进行信号处理的产品中, 其根源与其他的 EMC 抗扰度问题类 似, 是干扰进入 CPU 内部影响其正常运行, 对于模拟电路的产品, 信号在进入模数转换之前的信号滤波很重要。

一旦出现测试通不过的问题,判断出到底根源在哪里是很 不容易,解决难度相当的大,且相当耗费时间和精力,在实验室 中测试成本大幅上升。

解决方案有包括:
系统的良好的接地设计(包括机箱机柜、控制面板、通信 电缆连接)以及完善的电路信号处理。

在解决产品辐射抗扰度的过程中,有一些独特办法,迅速 定位出抗扰度问题的根源, 在电路设计上采用相应的措施用以解 决此类问题,不建议采用屏蔽的办法来解决。

四 其他传导类的电磁干扰如电快速瞬变脉冲群抗扰 度、浪涌和射频传导抗扰度测试也会发生问题,但解决 起来会比较容易一些,在此不再垒述。

结束语

以上是在为企业产品研发进行电磁兼容咨询和解决问题的 过程中的一些体会,写出来与大家其享,希望大家在进行产品设 计的过程中不要因为 EMC 的问题造成麻烦,也希望利用自己的 一些经验帮助大家避免和解决产品研发中的 EMC 问题,也借此 机会与大家交流,文中有不妥的地方,请批评指正,谢谢!

参考文献:

1. 李富同 等 高速 PCB 板的 EMI 设计导则 电子质量  2004年 12期

2. Ott, Henry. W., Partitioning and Layout of a Mixed Signal PCB Printed Circuit Design, June 2001.

3. 李富同 余海涛 PCB 板 EMC 问题的 PEEC 仿真分析 [A]; 全国电磁兼容学术会议论文集   2006年。

4. David Staggs  Managing an EMC Engineering and Testing Organization   IEEE  EMC Symposium  2002