测量的目的是再现在标准抗干扰测试时的功能故障，从而确认和评估干扰被耦合入和耦合出的路径。 

使用E1抗干扰开发系统，测量和定位EFT/ESD问题的一般步骤为： 

1．故障粗略定位 

检查EUT的各个电路模块，例如整块PCB、PCB间的互联电缆、PCB内的电路功能模块等。 

取EUT的一块PCB或者一部分电路，对该模块的GND直接注入干扰： 

* 两极连接方式注入干扰：
把SGZ21信号源的两个输出，分别连接到电路模块的GND上，判断是否是磁场敏感。如果在这种方式下，EUT出现期望的功能故障，说明在这两个GND节点之间存在的干扰电流路径周围，存在对磁场敏感的敏感点。 

* 单极连接方式注入干扰： 
把SGZ21信号源的其中一个输出接到电路模块的GND上，另一个输出端接到EUT的机箱(可以用电场场源模拟机箱)，判断是否是电场敏感。如果单极连接期间出现功能故障，可能是： 

电场：直接由EUT和场源探头间引起的故障； 

磁场：流入电场的电流产生磁场，磁场被耦合到信号环路上，导致出现故障。

区分办法： 

在EUT的GND和附近的金属物体之间建立一个很短的低阻抗的连接，从而消除电场的影响，如果不再出现那个已知的功能故障，就说明，那个已知的功能故障是由电场引起的。否则，这个故障可能是磁场引起的。

2．测量干扰电流路径 

通过"故障粗略定位"，把敏感点位置进行了粗略的定位，同时确定了电路敏感的性质(磁场敏感或者电场敏感)。使用瞬态电磁场探头，能测量EUT内部突发磁场的相对强度，并可以测量出干扰电流的流向。利用瞬态磁场探头测量时，能帮助你发现：

a. EUT内哪里存在突发磁场？ 
b. EUT内部的干扰电流是怎么流的？ 
c. 干扰电流有没有流入集成电路的输入和输出？ 
d. 旁路电容有什么影响，应该采用多大容值的电容？
e. 屏蔽连接的长度是如何影响旁路电流的？ 

3．精确定位敏感点 

在把故障定位到模块并测量出电流路径之后，使用场源，能对敏感点进行精确定位： 

首先是根据前面的测量结果来选择场源，决定使用磁场场源或者电场场源。 

再依据测量到的"电流路径"，沿着干扰电流方向的路径，使用相应的场源对EUT注入干扰。E1抗干扰开发系统配备了不同分辨率的9种场源，选择场源时，从大面积到小面积，选择强度时，探头由远到近慢慢靠近EUT，从而最终确定敏感点的位置。 

4．评估电路修改有效性 

找出电路内部存在的敏感点之后，开发人员会进行电路修改以改善EUT的抗干扰性能。为此，E1抗干扰开发系统，使用了一套"脉冲率测量法"的技术，让我们能对电路修改的有效性进行快速的评估。脉冲率测量法需要使用SGZ21发生器和传感器。 

SGZ21产生如图6所示的，输出脉冲无序的，峰值电平呈平均分布的脉冲信号，这样就不需要发生器和计数器之间的同步。 

例如，用放在EUT内部的传感器来监视敏感的信号线，一旦检测到这根信号线上有干扰，就会发出一个光脉冲。SGZ21上的计数器对这些光脉冲进行计数。在一个周期信号(1秒钟)序列期间检测到的计数值，代表着干扰门限所处的位置，即EUT的敏感度。