电感带来变化
快速变化的电压和电流作用于主电感,使其成为电磁天线,因此,电感可以成为FM频段CE噪声的来源。我们可以使用多种电感方法来改善EMI测试结果。例如,电感安装的方向可以带来改变。2屏蔽电感的辐射通常比非屏蔽电感低,有些磁芯材料对H场和E场辐射的抑制作用也比其他材料强。例如,铁粉和金属合金粉电感在频率高于1 MHz时,E场屏蔽效果减弱。MnZn和NiZn在更高开关频率下性能更好。2, 3带裸露焊盘的电感性能不如焊盘未裸露的电感。将内部线圈的长引线连接到高dVdt(开关)节点会使E场辐射大幅增加。

图4.电流探头CE测试表明,在使用共模扼流圈时,FM频段内的辐射较低

图5.电流探头CE测试结果比较(电感)

图6.电流探头CE测试结果比较(开关频率)
采用三个22 H屏蔽电感进行测试,如表1所示。在不采用CM扼流圈的相同电路中评估EMI,每个电感都按照能提供最佳性能的方向安装。比较结果如图5所示。在本次研究中,Coilcraft XEL电感的FM频段噪声抑制性能最佳,与其他3L电感相比,将FM频段EMI降低5.1 dB。
开关频率(fsw)越低,FM频段内的噪声越小
降低开关频率可以降低给定高频下的发射能量。在图6中,对不使用CM扼流圈的电路执行电流探头CE测试,并比较在200 kHz、300 kHz和400 kHz开关频率下的测试结果。除RT外的所有组件都保持不变。测试结果显示,200 kHz时FM频段内的EMI最低,与400 kHz时相比,辐射降低3.2 dB。
通过减小开关节点面积来减少天线噪声
高dVdt开关节点是一个噪声源,会产生电容耦合,增加CE中的CM EMI噪声。它也像天线一样工作,向空间辐射电磁噪声,也会影响辐射EMI。因此,尽可能减小PCB布局上的开关节点面积可以改善EMI性能。
为了在PCB电路板上测试这一点,我们切除了部分铜芯,并将电感移动到更靠近IC的位置(如图7所示),以此减小开关节点面积。我们测试了切除铜芯之前和之后的EMI,测试结果如图8所示。
结果显示,50 mm电流探头CE测试在105 MHz时降低了1 dB,而750 mm测试没有明显改善。这一结果表明,在此应用中,铜芯面积不是影响FM频段EMI的主要因素。尽管如此,为了实现低EMI的PCB布局,或在设法消除EMI期间,尽量减小开关节点面积仍然是值得尝试的。

图7.开关节点切除区域










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