第四部分：传导抗扰度测量方法--直接射频功率注入法(DPI)

图九 DPI测试示意图

与BCI方法采用感性注入相对应，DPI方法采用容性注入。射频信号直接注入在芯片单只引脚或一组引脚上，耦合电容同时起到了隔直的作用，避免了直流电压直接加在功放的输出端，测试示意图如下所示：

第五部分：传导抗扰度测量方法--法拉第笼法WFC　　　 

图十 法拉第笼法抗扰度测试示意图

法拉第笼传导抗扰度测量法采用IEC61967－5的法拉第笼，只须将接收机替换成信号源和功放，测试示意图如下所示。屏蔽的结构和良好的滤波使得射频干扰信号被限制在法拉第笼内部，可有效地保护测试操作人员。

R&S公司的测试系统解决方案

针对IEC61967的各项测试，R&S公司采用认证型的接收机R&S ESCI，结合各种附件，即可完成集成电路电磁发射测试标准。R&S ESCI同时具有接收机和频谱仪的功能，完全符合标准CISPR16-1-1。工作频率范围是9kHz-3GHz，内置预选器和20dB的预放，带有峰值、准峰值、有效值、线性平均和CISPR平均检波器，各检波器可以用条形图显示，且带有峰值保持功能，通过GPIB总线接口可由R&S EMC32软件包实现远程控制，发射测试配置如下图所示：

图十一 集成电路电磁发射测试配置图

针对IEC62132的各项抗扰度测试，R&S公司采用集成测试系统R&S IMS，结合各种附件，即可完成所有的集成电路抗扰度测试。R&S IMS是一款紧凑型的测试设备，覆盖频率9 kHz 到3 GHz，内置了信号源、切换开关、功率计和功放，同时也可控制外置功放；通过GPIB总线接口可由R&S EMC32软件包实现远程控制，抗扰度测试配置如下图所示。

图十二 集成电路电磁抗扰度测试配置图

随着工作频率及芯片复杂度的不断增长，集成电路电磁辐射及抗扰度测试也需要继续发展以适应新的要求：测试向高频方向发展，为了突破1GHz的限值，不少国家和企业已经采用GTEM 小室的方法，弥补TEM 小室测试频率限值的不足；脉冲抗扰度测试的标准化也正在进行中，标准IEC62215即将出版，与IEC62132互补，更加全面地考虑到了集成电路遭受电磁干扰时的情形。