图1. 不同信号转换率对信号波形的影响


第二个会造成电磁波的因素，为电路中信号路径不正确的终结。若是终端的阻抗不匹配时，波形就会形成上缘凸起(Over-Shoot)或下缘陷落(Under-Shoot)的状况，使电磁波辐射的能量增强。视信号波形凸起或陷落程度的多寡，每个信号或节点可比正常的情况增加约3 ~ 4 dB的电磁波辐射，若同时有数十个信号或节点发生信号凸起的情形，想要通过FCC的测试根本是不可能的事情。图2-(a)显示不正确的信号终结所造成的凸起与陷落；图2-(b)右为正确的信号终结状态，有着较左图为低的EMI。

图2. 信号终结状态示意


(a) 不正确的视讯终结


(b) 正确的视讯终结

如何量测电磁波

通常要测量EMI的方式，是将受测的产品放置在一个受控制的环境之中，例如无电磁波回声室或开放空间测试场所﹝Open Area Test Site, OATS﹞，测量由产品中辐射出来的电磁波强度，与FCC等单位所规定的限制值相比较。在1975年时，FCC规定所有在产品功能上并非有意发出电磁波的设备，所辐射的电磁波强度，在特定的距离与频率测量时，不得超过FCC所规定的最大能量 。

FCC主要对辐射强度分成两大种类的标准，Class A与Class B。Class A标准适用的产品类型为数字设备标示为商业、工业或办公场合用途，并不得在公众场所与家庭内所使用，Class B标准的适用产品则为数字产品标示为家庭使用，但也可以适用于其它场合。Class B标准较Class A严格许多；表1显示FCC Class A与Class B的规格标准。

表1. FCC的Class ”A”与Class “B”规格


当测试实验室完成受测产品的测量后报告中的图表可显示出频率范围由30MHz到1000MHz的辐射能量强度若是辐射能量强度的极大值低于上表中FCC对每个频段辐射强度的规范则此产频就符合FCC的标准但若是某个频率中的极大值超过FCC的标准产品就必须进行修改或重新设计以降低电磁波辐射的强度。