2012年华东地区检验检疫电磁兼容及可靠性检测学术研讨会于10月20日在苏州隆重召开。会议由苏州大学汪一鸣院长主持，苏州检验检疫局孟家祺副局长到场并作重要讲话。国家科技部政策法规司唐玉立处长、苏州科技局吴伟澎副局长、苏州检验检疫局程维勇处长、陆全荣处长及国内检验检疫同行、学术界、工业界知名的电磁兼容专家等40余人参加了会议。

       本次研讨会由苏州信息产品检测中心和苏州大学城市轨道交通学院共同举办，中认英泰（苏州）检测技术有限公司协办。会议以贯彻落实国务院《质量发展纲要》，响应国家质量监督检验检疫总局 “科技质检”的要求为先导，以努力落实总局支树平局长在2012年科技表彰大会提出的《推进科技质检建设，树立科学权威形象》的讲话精神为标杆，继续加大科研创新力度，发展实验室检测技术能力与水平。

       苏州检验检疫局孟家祺副局长、苏州科技局吴伟澎副局长首先分别向各位领导嘉宾致欢迎词，科技部唐处长致开幕词；程维勇处长宣布会议优秀论文名单，与会领导及对优秀论文作者进行了颁奖。学术报告由扈罗全博士主持，科技部唐处长做“我国科技战略与国家科技创新体系”主题报告，同济大学张冶文教授做“关于我国建议的IEC标准：用压力脉冲波法测量绝缘介质内的电场分布”主题报告，苏州大学韩森教授做“光学干涉测量技术的应用”主题报告。报告内容及其丰富，对我国检验检疫科技战略与科技管理工作有重要参考意义。唐处长最后表示，经济的发展是科技实力的社会体现，要社会经济完美转型，必须鼓励企业发展科技创新，鼓励检测机构与企业合作，使其科研技术能力互相渗透，互相提高，共同促进社会经济稳步发展。

本次研讨会邀请了国内检验检疫同行、学术界、工业界知名的电磁兼容专家、可靠性检测技术专家，到研讨会进行技术交流，开展相关技术专题讲座。会议以提高检验检疫实验室管理水平和技术能力为主题，在电磁兼容的检测测试理论、测试方法、仪器设备操作、认证检测技术、国际标准体系、人才交叉培养和实验室规划建设、可靠性分析及实验设计、产品寿命期性能分析等多个领域展开深入探讨与交流，并在本次会议征稿的30余篇学术论文中甄选出了一批科技含量高、实践操作性强、技术能力新的优秀论文。在研讨会现场，通过专家们深入浅出的讲解以及现场答疑，与会代表一致认为，检验检疫科技创新必须先推动理念创新、方法创新，再以此为着力点，把科技创新推向纵深，为检测技术能力发展打开崭新局面。